嵌入式处理器调试方法与案例分析 - 中国高校教材图书网
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书名: |
嵌入式处理器调试方法与案例分析
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ISBN: | 978-7-5673-0638-7 |
条码: | |
作者: |
扈啸、王耀华 著
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装订: | 平装 |
印次: | 1-1 |
开本: | 16开 |
定价: |
¥68.00
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节省了3.4元
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字数: |
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出版社: |
国防科技大学出版社 |
页数: |
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发行编号: | |
每包册数: |
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出版日期: |
2024-04-01 |
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内容简介: |
本书对目前嵌入式处理器调试技术领域现状进行了概述,对多核处理器的调试挑战进行了分析。对解决工程问题的通用调试方法进行了论述,重点讨论了集合与逻辑、概率与因果方法、逻辑树与故障树等方法,提出了基于概率故障树的推理,并特别讨论了质量归零的方法和步骤。概述了调试的技术和工具,讨论了处理器调试的模型,提出了一套调试的理论模型和基于影响要素的调试方法论。对嵌入式处理器系统的核心设计问题进行了分析论述,还结合了10个经典调试案例,对软硬件多种调试过程进行了深入描述和剖析。对大量调试案例进行了分类归纳并简要分析。
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作者简介: |
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书 评: |
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其 它: |
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