集成电路芯片测试技术 - 集成电路专业职业教育系列教材 - 中国高校教材图书网
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书名： |
集成电路芯片测试技术
集成电路专业职业教育系列教材
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| ISBN： | 9787560659541 |
责任编辑： | |
| 作者： |
居水荣
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定价： |
￥42.00
折扣价：￥39.90
折扣：0.95
节省了2.1元
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| 版印次： | 1-1 |
开本： | 16开 |
| 出版社： |
西安电子科技大学出版社 |
装订： | 0 |
| 出版日期： |
2021-03-01 |
页数： |
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| 分级： | |
每包册数： | |
| 适用专业： | |
立体化教材： | |
| 类别： | |
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| 中图法分类： | |
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读者分类： | |
| 千字数： | 0 |
印刷日期： | |
| 国家规划教材： | |
省部级规划教材： | |
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其他获奖项目： | |
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| 内容简介： |
本书是从微电子产业实际岗位需求出发，结合作者多年企业工作经验及一线教学经验编写的。本书详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写，具体包括各类组合\时序逻辑电路测试、ADC\DAC芯片测试、存储器\微控制器测试、集成运放\电源管理芯片测试等，同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。
本书可作为高职院校微电子技术专业的核心课程教材，亦可作为全国职业院校技能大赛-集成电路开发及应用”赛项的备赛训练参考教材。
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| 作者简介： |
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| 章节目录： |
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| 精彩片段： |
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| 书 评： |
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| 其 它： |
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