SOC/ASIC设计、验证和测试方法学 - 中国高校教材图书网
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书名： |
SOC/ASIC设计、验证和测试方法学
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| ISBN： | 7-306-02682-8/TN43 |
条码： | |
| 作者： |
沈理
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装订： | 平装 |
| 印次： | 1-1 |
开本： | 国际16开 |
| 定价： |
￥35.00
折扣价：￥33.25
折扣：0.95
节省了1.75元
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字数： |
357千字
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| 出版社： |
中山大学出版社 |
页数： |
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| 发行编号： | |
每包册数： |
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| 出版日期： |
2006-03-01 |
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| 内容简介： |
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本书阐述了设计系统芯片（SOC）所需的新的设计、验证和测试方法学，其基本原理同样适合于超大规模专用集成电路芯片（ASIC）的设计。本书适合IC设计领域的科技人员，高校相关专业大学生和研究生。本书的具体内容有：集成电路发展史及SOC设计所面临的挑战；SOC设计：SOC模型、设计分层、设计重用技术等；SOC/ASIC验证：功能验证、等价验证、静态分析验证、物理验证等；SOC/ASIC测试：集成电路测试技术、可测试性设计方法；集成电路设计语言（包括SystemC，SystemVerilog，OpenVera等）及其新发展；Synopsys公司的EDA系统以及相关的IC设计和验证方法学；Philips SOC设计平台的实例。
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| 作者简介： |
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| 章节目录： |
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| 精彩片段： |
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| 书 评： |
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| 其 它： |
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